Instrumen analisis kimia yang canggih menjadi tersedia untuk kegunaan bidang dengan cepat. Sehingga 2011, instrumen pendarfluor sinar-X boleh didapati dalam model mudah alih, serta unit berasaskan makmal. Data yang diperoleh daripada instrumen ini hanya berguna sekiranya data tersebut dapat ditafsirkan. XRF digunakan secara meluas dalam analisis geologi, kitar semula dan usaha pemulihan alam sekitar. Dasar-dasar tafsiran data XRF melibatkan pertimbangan isyarat yang timbul daripada sampel, artifak alat dan fenomena fizikal. Spektrum data XRF membenarkan pengguna mentafsirkan data secara kualitatif dan kuantitatif.
Plot data XRF dalam graf intensiti berbanding tenaga. Ini membolehkan pengguna untuk menilai data dan melihat dengan cepat elemen peratusan terbesar dalam sampel. Setiap elemen yang memberi isyarat XRF muncul pada tahap tenaga yang unik dan ciri-ciri elemen tersebut.
Perhatikan bahawa anda hanya akan merancang intensiti untuk garisan yang menghasilkan garis K dan / atau L. Garis-garis ini merujuk kepada pergerakan elektron antara orbital di dalam atom. Sampel organik tidak akan mempamerkan apa-apa garisan kerana tenaga yang diberikan terlalu rendah untuk dihantar melalui udara. Unsur-unsur nombor atom yang rendah hanya menunjukkan garis K kerana tenaga dari garis L juga terlalu rendah untuk mengesan. Unsur-unsur nombor atom yang tinggi hanya menunjukkan garis L kerana tenaga dari garis K terlalu tinggi untuk dikesan oleh kuasa peranti pegang tangan terhad. Semua elemen lain boleh memberi respons untuk kedua-dua baris K dan L.
Ukur nisbah garisan K (alfa) dan K (beta) bagi elemen untuk mengesahkan bahawa mereka berada dalam nisbah 5 hingga 1. Nisbah ini mungkin berbeza-beza sedikit tetapi tipikal untuk kebanyakan elemen. Pemisahan puncak dalam garis K atau L biasanya mengikut susunan beberapa keV. Nisbah bagi l (alpha) dan L (beta) biasanya 1 hingga 1.
Gunakan pengetahuan anda tentang sampel dan spektrum untuk menentukan sama ada terdapat tumpang tindih spektrum dari elemen yang serupa. Spektrum dua elemen yang memberi tindak balas di rantau tenaga yang sama boleh menyerap antara satu sama lain atau mengubah lengkung intensitas di rantau itu.
Pertimbangkan resolusi penganalisis medan anda. Instrumen resolusi rendah tidak dapat menyelesaikan dua unsur jiran pada jadual berkala. Perbezaan antara tahap tenaga kedua-dua unsur ini boleh kabur bersama instrumen yang mempunyai resolusi rendah.
Menghapuskan isyarat yang merupakan alat artifak dari spektrum. Isyarat ini berkaitan dengan isyarat yang timbul daripada artifak dalam reka bentuk instrumen atau mungkin disebabkan oleh pembinaan alat itu. Kesan balik penyebaran sampel secara umumnya menyebabkan puncak yang sangat luas dalam spektrum. Ini adalah tipikal sampel berkepekatan rendah.
Cari dan alih keluar daripada pertimbangan sebarang kejadian puncak Rayleigh. Ini adalah kumpulan intensiti rendah yang sering berlaku dalam sampel padat. Selalunya puncak ini muncul pada instrumen tertentu untuk semua sampel.