Kandungan
Mikroskop elektron penghantaran (TEM) dan pengimbasan mikroskop elektron (SEM) adalah kaedah mikroskopik untuk melihat spesimen yang sangat kecil. TEM dan SEM boleh dibandingkan dengan kaedah penyediaan spesimen dan aplikasi setiap teknologi.
TEM
Kedua-dua jenis mikroskop elektron membombardir spesimen dengan elektron. TEM adalah sesuai untuk mengkaji bahagian dalam objek. Pewarnaan memberikan kontras dan pemotongan menyediakan spesimen ultra nipis untuk pemeriksaan. TEM sesuai untuk pemeriksaan virus, sel dan tisu.
SEM
Spesimen yang diperiksa oleh SEM memerlukan salutan konduktif seperti paladium emas, karbon atau platinum untuk mengumpul lebihan elektron yang akan mengaburi imej. SEM sangat sesuai untuk melihat permukaan objek seperti agregat makromolekul dan tisu.
Proses TEM
Pistol elektron menghasilkan arus elektron yang difokuskan oleh kanta kondenser. Rasuk yang terkondensasi dan elektron yang dihantar difokuskan oleh lensa objektif ke dalam imej pada skrin imej fosfor. Kawasan gelap imej menunjukkan bahawa elektron kurang dihantar dan bahawa kawasan tersebut lebih tebal.
Proses SEM
Seperti dengan TEM, satu rasuk elektron dihasilkan dan dipelopsi oleh kanta. Ini adalah lensa kursus di SEM. Kanta kedua membentuk elektron menjadi rasuk yang ketat dan nipis. Satu set gegelung mengimbas rasuk dengan cara yang sama dengan televisyen. Kanta ketiga mengarahkan rasuk ke bahagian yang dikehendaki dari spesimen. Rasuk itu boleh tinggal di atas titik tertentu. Rasuk ini boleh mengesan seluruh spesimen sebanyak 30 kali sesaat.